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微米納米連接平臺，利用LM與SEM兩種設備對同一區域實現快速定位、對比、分析。省去了不斷尋找分析區域的繁瑣過程。 >

SEM-XPS-SIMS >

掃描電鏡-拉曼光譜聯用可以對樣品進行微區原位分析，實現對樣品的系統性分析測試。鑒于可以從同一點采集掃描電鏡數據與拉曼光譜數據，能夠對樣品表面形貌和物質分子結構的關系進行快速直觀的表征。以SEM圖像為基礎，可以更準確地對樣品選擇測試區域進行快速、無損的物質成分分析，得到準確的樣品組成數據。 >

在加熱過程中觀察材料的組織變化情況 >

在拉伸實驗的同時，觀察裂紋的萌生和擴展；加載速率可控，在產生裂紋后可保持加載狀態進行照相，通過逐步加載，原位觀測裂紋尖端的組織變化以及裂紋擴展路徑與組織關系。 >

對材料微區進行元素定性半定量分析(點掃)；線掃時可提供樣品中元素沿某條掃描線上的分布；彩色mapping圖可顯示元素的分布情況；同時在對材料進行失效分析時進行元素測定、輔助金相分析等 >